Publication: Obtención de perfil de concentración de sólidos en sedimentación mediante tomografía de impedancia eléctrica
| dc.contributor.advisor | Vergara R., Samuel A. | |
| dc.contributor.advisor | Betancourt, Fernando | |
| dc.contributor.advisor | Cariñe, Jaime | |
| dc.contributor.author | Carrasco Alarcón, Eduardo Mauricio | |
| dc.date.accessioned | 2026-08-10T18:45:44Z | |
| dc.date.available | 2026-08-10T18:45:44Z | |
| dc.date.issued | 2024 | |
| dc.description | Informe de Habilitación Profesional para optar al grado académico de Licenciado en Ciencias de la Ingeniería y al título de Ingeniero Civil Eléctrico. | |
| dc.description.abstract | La Tomografía de Impedancia Eléctrica (TIE) es una técnica de imagen no invasiva que mide la conductividad o impedancia eléctrica en una zona. Esto la vuelve una tecnología interesante para estudios de sedimentación de sólidos, ya que, a diferencia de los métodos visuales tradicionales, no depende de la claridad del fluido. En este trabajo se obtuvieron perfiles de concentración de sólidos a partir de simulación de medición con tomografía de impedancia eléctrica. Para esto, primero se seleccionaron tres instantes representativos desde un perfil en el tiempo de sedimentación Batch generado con el modelo fenomenológico de sedimentación-compactación. Estos perfiles de concentración fueron mapeados a conductividad mediante la relación de Perry and Chilton [8]. Una vez obtenido el mapeo conductividad, se simularon los valores de voltajes en un tomógrafo utilizando Matlab (EIDORS). Estos voltajes fueron utilizados para obtener reconstrucciones bidimensionales de conductividad mediante el algoritmo de reconstrucción Gauss Newton y tres diferentes tipos de regularizaciones Thikonov, Laplace y Noser. Estas reconstrucciones fueron mapeadas a una dimensión con el propósito de conocer el comportamiento con respecto al mapeo de conductividad original. Se exploraron adicionalmente alternativas para subsanar objetos de reconstrucción debido a la diferencia de ganancia en cercanía de los electrodos. Una vez obtenidas las comparaciones con respecto a la original, se volvió a generar un mapeo de concentración de sólidos en una dimensión con los algoritmos utilizados, para ver evaluar comportamiento de este con respecto al mapeo original. Se evaluaron las reconstrucciones midiendo el error cuadrático medio con respecto al perfil unidimensional con el que se generaron los voltajes. Como resultado se obtuvo que el método de Laplace es el más adecuado para resolver este problema particular. Se desarrolla también en el informe una búsqueda de los hiperparámetros de los métodos de regularización. | |
| dc.identifier.uri | https://tesis.ucsc.cl/handle/25022009/4572 | |
| dc.language.iso | es | |
| dc.publisher | Universidad Católica de la Santísima Concepción | |
| dc.subject | Sedimentación | |
| dc.subject | Tomografía de impedancia eléctrica | |
| dc.subject | Perfiles de concentración | |
| dc.subject | Facultad de Ingeniería | |
| dc.subject | Ingeniería Civil Eléctrica | |
| dc.title | Obtención de perfil de concentración de sólidos en sedimentación mediante tomografía de impedancia eléctrica | |
| dc.type | Thesis | |
| dspace.entity.type | Publication |